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IC(IntegratedCircuit集成電路)是一種將許多微電子元件(如晶體管、電阻器、電容器、二極管等)集成在塑料基板上的芯片。)集成電路。廣義上，IC芯片的概念是半導(dǎo)體元件產(chǎn)品的總稱。

國內(nèi)IC市場有很多IC術(shù)語:散新貨、翻新貨、原字原腳貨、全新原裝貨。

散新貨：

有兩種新產(chǎn)品。一種是制造商在進(jìn)入QC前進(jìn)入市場的商品。成品率不是很高。另一種是未使用、未包裝和可能氧化的商品。

翻新貨：

這些商品通過一些國內(nèi)企業(yè)的利潤率和各種渠道回收商品，并根據(jù)型號、包裝、編織和打字更改為新的批號。另一個是最可怕的買家相同的集成電路包裝模型，但不是相同的品牌或相同的功能集成電路通過打字翻新，模仿模型，這類商品，將給采購工廠帶來巨大的損失。

原腳貨:原腳貨:

說白了，這種商品就是拆卸零件。有一些IC芯片，包裝簡單，可以反復(fù)擦拭和書寫。通過拆卸，它們被拆卸并流放到市場兩次。這種商品通常很便宜。

新原裝貨:

沒有必要解釋這一點(diǎn)。該產(chǎn)品是經(jīng)QC認(rèn)證后進(jìn)入市場的原廠產(chǎn)品。一般來說，價格可能更高，但質(zhì)量必須達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。

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外觀檢測：

外觀檢測通常采用光學(xué)顯微鏡，檢查芯片的共性、表面印刷、設(shè)備主體和管腳是否符合具體要求。

X-ray檢測：

x-ray透視檢查是一種可以從多個角度觀察物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的無損檢查方法。x-ray透視檢查被測設(shè)備密封的晶粒、引線框和金線是否有物理缺陷。

丙酮擦拭試驗(yàn)：丙酮擦拭試驗(yàn)：

丙酮擦拭是用一定濃度的丙酮定期擦拭芯片表面的絲網(wǎng)，其結(jié)果是判斷芯片表面是否重印。

開封測試：

開封蓋是一種物理化學(xué)試驗(yàn)，是溶解芯片外表面的環(huán)氧膠體，保留完整的顆粒或金線，便于檢查重要顆粒表面標(biāo)志、布局、工藝缺陷等。

無鉛檢測：

使用SEM/EDS檢測零件的引腳或端子，確認(rèn)是否含鉛，并提供測試數(shù)據(jù)和報告。

電氣測試/功能測試：

IV曲線跟蹤儀和探針臺用于IC各管腳和開封后各金線的曲線試驗(yàn)，包括:量產(chǎn)試驗(yàn)、短路試驗(yàn)、漏電流試驗(yàn)。